到發線有效長

[拼音]：jingtiguan diancanshu celiang

[英文]：transistor parameter measurement

電晶體電引數包括直流引數、器件引數、頻率引數、網路引數、特殊引數和極限引數。

測量電晶體直流引數的直觀方法是使用電晶體特性曲線圖示儀。在被測器件的輸入端注入一個階梯掃描電流，在輸出端就可以看到輸出電流-電壓關係曲線。圖1為共發射極輸出特性曲線，根據這一曲線可以近似求出擊穿電壓

、電流放大係數

和飽和壓降

。

表徵頻率特性的最常用引數是特徵頻率fT。圖2是│

│隨頻率的變化關係，當測量頻率f0＞(3～5)

時(圖中斜線的區域)，滿足fT=|

|·f0為一常數。式中|

|是共發射極輸出短路時的電流放大係數的模值;

是共發射極電流放大係數截止頻率。這個關係使測量頻率可選取在遠低於fT的頻率上。測量fT的系統框圖如圖2b。還可以將被測電晶體作為二埠網路，用網路分析儀來測量電晶體的S引數。

電晶體電引數的測量逐漸實現自動化，從直流到高頻範圍的測量已基本上達到自動分選。微波引數（例如噪聲係數）的測量可通過配有微型計算機的系統在幾秒鐘內得出結果，甚至能掃描測出噪聲係數的頻率特性。