latch bit test

英 文 latch bit test

中 文 鎖存位位測試

出 處 電子計算機名詞

latch bit test 鎖存位位測試 【電子計算機名詞】

perimetry test 視野測試｛註：亦稱 visual field test｝ 【心理學名詞】

Olsern test 歐森〔凹壓〕試驗｛同Erichsen test｝ 【材料科學名詞-金屬材料】

flare test 頂進定量變形試驗｛與drift test同｝ 【材料科學名詞-金屬材料】

binit 位元{為bit之舊稱} 【計量學名詞】

bit error rate test 位元誤碼率測試 【資訊與通信術語辭典】

bit error rate test{=BERT} 位元誤碼率測試 【電子計算機名詞】

bit error rate test set 位元錯誤率測試裝置 【電子計算機名詞】

built-in test{=BIT} 內建測試 【電子計算機名詞】

Built-In Test{=BIT} 內裝式測試 【通訊工程】

bit error rate test set 位元錯誤率測試裝置 【通訊工程】

Wilcoxon Singed-Ranks Test 魏克遜符號等級檢定 【教育大辭書】

Two-Tailed Test 雙測檢定 【教育大辭書】

Divergent Thinking Test 擴散性思考測驗 【教育大辭書】

Simulated Performance Test 模擬的實作測驗 【教育大辭書】

Standardized Test 標準化測驗 【教育大辭書】

Durbin-Watson Test 德－華檢定 【教育大辭書】

Academic Aptitude Test 學業性向測驗 【教育大辭書】

[Scholastic Aptitude Test, SAT] 〔學習性向測驗〕 【教育大辭書】

[Test Anxiety Scale for Chinese Children] ［中國兒童一般焦慮測驗］ 【教育大辭書】