worst pattern test

英 文 worst pattern test

中 文 最壞模式測試

出 處 電子計算機名詞

worst pattern test 最壞模式測試 【電子計算機名詞】

worst pattern 最壞模式 【電子計算機名詞】

perimetry test 視野測試｛註：亦稱 visual field test｝ 【心理學名詞】

Olsern test 歐森〔凹壓〕試驗｛同Erichsen test｝ 【材料科學名詞-金屬材料】

flare test 頂進定量變形試驗｛與drift test同｝ 【材料科學名詞-金屬材料】

worst case peak shift pattern 最壞峰值位移型樣 【資訊與通信術語辭典】

worst case amplitude-derivation pattern 最壞幅度演變圖型 【資訊與通信術語辭典】

automatic test pattern generation system 自動測試形樣產生系統 【資訊與通信術語辭典】

worst case pattern 最壞情況字組 【電子工程】

test pattern 測試樣型；測視圖； 【電機工程】

test pattern 檢驗圖 【電子工程】

automatic test pattern generation system{=ATPG} 自動測試型樣產生系統 【電子計算機名詞】

automatic test pattern generation 自動測試型樣產出 【電子計算機名詞】

automatic test pattern 自動測試型樣 【電子計算機名詞】

ATPG(Automatic Test Pattern Generation)system 自動測試形樣產生系統 【電子計算機名詞】

worst peak shift pattern 最壞峰值移位圖型；最壞峰值浮移模式 【電子計算機名詞】

worst case peak shift pattern 最壞峰值位移型樣 【電子計算機名詞】

worst case noise pattern 最壞情況雜訊圖型 【電子計算機名詞】

worst case amplitude-derivation pattern 最壞幅度演變圖型 【電子計算機名詞】

test-pattern generat 測試型態產生器 【電子計算機名詞】