test generation

英 文 test generation

中 文 測試產生

出 處 電子計算機名詞

critical path test generation 要徑測試產生 【資訊與通信術語辭典】

test generation 測試產生 【資訊與通信術語辭典】

random test generation 隨機測試產生 【資訊與通信術語辭典】

fault test generation 故障測試產生 【資訊與通信術語辭典】

automatic test generation system 自動測試產生系統 【電子計算機名詞】

automatic test generation 自動測試產生 【電子計算機名詞】

test generation 測試產生 【電子計算機名詞】

random test generation 隨機測試產生 【電子計算機名詞】

path sensitizing test generation 路徑敏化測試產生法 【電子計算機名詞】

critical path test generation 要徑測試產生 【電子計算機名詞】

fan-out oriented test generation algorithm 扇出導向測試產生演算法 【電子計算機名詞】

fault test generation 故障測試產生 【電子計算機名詞】

perimetry test 視野測試｛註：亦稱 visual field test｝ 【心理學名詞】

Olsern test 歐森〔凹壓〕試驗｛同Erichsen test｝ 【材料科學名詞-金屬材料】

flare test 頂進定量變形試驗｛與drift test同｝ 【材料科學名詞-金屬材料】

automatic test pattern generation system 自動測試形樣產生系統 【資訊與通信術語辭典】

Algorithmic Test Case Generation 演算法測試案例產生 【資訊與通信術語辭典】

test-sequence generation 測試序列產生 【電子工程】

automatic test pattern generation system{=ATPG} 自動測試型樣產生系統 【電子計算機名詞】

automatic test pattern generation 自動測試型樣產出 【電子計算機名詞】