Kelvin-probe force microscopy {= KPFM}

英 文 Kelvin-probe force microscopy {= KPFM}

中 文 克氏探針表面電位顯微術

出 處 計量學名詞

Kelvin-probe force microscopy {= KPFM} 克氏探針表面電位顯微術 【計量學名詞】

conductive-probe atomic-force microscopy {= CPAFM} 導電探針原子力顯微術 【計量學名詞】

Kelvin probe 凱文探針 【電子工程】

magnetic force microscopy{=MFM} 磁力顯微術 【電子工程】

probe force 探針力 【電子工程】

Atomic force microscopy{=AFM} 原子力顯微鏡（術） 【電子工程】

atomic force microscopy 原子力顯微術 【電子計算機名詞】

electrostatic force microscopy 靜電力顯微鏡 【機械工程】

lateral force microscopy 橫向力顯微鏡 【機械工程】

single-molecule atomic force microscopy 單分子原子力顯微鏡 【機械工程】

MFM｛magnetic force microscopy｝ 磁力顯微鏡 【物理學名詞】

ultrasonic force microscopy {= UFM} 超音波[原子]力顯微術 【計量學名詞】

non-contact atomic-force microscopy {= NC-AFM} 非接觸原子力顯微術 【計量學名詞】

chemical-force microscopy {= CFM} 化學力顯微術 【計量學名詞】

electrostatic-force microscopy {= EFM} 靜電力顯微術 【計量學名詞】

electrochemical atomic-force microscopy {= EC-AFM} 電化學原子力顯微術 【計量學名詞】

dynamic-mode atomic-force microscopy {= dynamic-mode AFM} 動態模式原子力顯微術 【計量學名詞】

Kelvin probe 克耳文[電壓]探頭 【計量學名詞】

magnetic-resonance force microscopy {= MRFM} 磁共振力顯微術 【計量學名詞】

magnetic-force microscopy {= MFM} 磁力顯微術 【計量學名詞】