試產
中 文 試產
英 文 trial-production
出 處 電機工程
相關詞匯
| 中文詞彙 | 英文翻譯 | 出處/學術領域 |
|---|---|---|
| 要徑測試產生 | critical path test generation | 【資訊與通信術語辭典】 |
| 測試產生器 | test generator | 【資訊與通信術語辭典】 |
| 測試產生 | test generation | 【資訊與通信術語辭典】 |
| 隨機測試產生 | random test generation | 【資訊與通信術語辭典】 |
| 故障測試產生 | fault test generation | 【資訊與通信術語辭典】 |
| 自動測試產器 | automatic test generator | 【資訊與通信術語辭典】 |
| 自動化測試產生器 | automated test generator | 【資訊與通信術語辭典】 |
| 試產 | trial-production | 【電機工程】 |
| 自動測試產生器 | automatic test generator{=ATG} | 【電子計算機名詞】 |
| 自動測試產生系統 | automatic test generation system | 【電子計算機名詞】 |
| 自動測試產生 | automatic test generation | 【電子計算機名詞】 |
| 自動化測試產生器 | automated test generator | 【電子計算機名詞】 |
| 測試產生器 | test generator{=TG} | 【電子計算機名詞】 |
| 測試產生 | test generation | 【電子計算機名詞】 |
| 巨集塊測試產生器 | macro block test generator{=MTG} | 【電子計算機名詞】 |
| 隨機測試產生 | random test generation | 【電子計算機名詞】 |
| 路徑敏化測試產生法 | path sensitizing test generation | 【電子計算機名詞】 |
| 要徑測試產生 | critical path test generation | 【電子計算機名詞】 |
| 扇出導向測試產生演算法 | fan-out oriented test generation algorithm | 【電子計算機名詞】 |
| 故障測試產生 | fault test generation | 【電子計算機名詞】 |
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