晶片測試
中 文 晶片測試
英 文 chips tests
出 處 電子工程
相關詞匯
中文詞彙 | 英文翻譯 | 出處/學術領域 |
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四分之一波(晶)片 | quarter wave plate | 【電子計算機名詞】 |
四分之一光波〔晶〕片 | quarter undulation plate | 【地球科學名詞】 |
半波[晶]片 | half-wave plate | 【地球科學名詞-天文】 |
[晶]片;糯米紙;晶圓 | wafer | 【化學名詞-化學術語】 |
半波[晶]片 | half-wave plate | 【天文學名詞】 |
四分之一波[晶]片 | quarter-wave plate | 【天文學名詞】 |
晶片測試 | chip testing | 【資訊與通信術語辭典】 |
晶片測試 | chips tests | 【電子工程】 |
晶片測試 | chip testing | 【電子計算機名詞】 |
軟片測試器 | film testing machine | 【電子工程】 |
自動圓片測試機 | automatic wafer testing machine | 【電子計算機名詞】 |
可程式自動電晶體測試器 | programmable automatic transistor tester{=PATT} | 【電子計算機名詞】 |
試驗基片;測試基體 | testing substrate | 【機械工程】 |
影片測試 | clutter test | 【新聞傳播學名詞】 |
晶圓測試 | wafer probe | 【化學名詞-高中以下化學名詞】 |
晶圓測試 | wafer probe | 【化學名詞-兩岸中小學教科書名詞】 |
微晶片晶體 | microchip crystal | 【電子工程】 |
矽晶絕緣體晶片 | SOI wafer | 【電子工程】 |
多晶片上矽晶 | silicon on sapphire | 【電子工程】 |
多晶片;多晶粒 | multichip | 【電子工程】 |
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