熱載子引發元件退化
中 文 熱載子引發元件退化
英 文 hot carrier induced device degradation
出 處 電子工程
相關詞匯
| 中文詞彙 | 英文翻譯 | 出處/學術領域 |
|---|---|---|
| 熱載子引發元件退化 | hot carrier induced device degradation | 【電子工程】 |
| 元件退化 | Device degradation | 【電子工程】 |
| 奇[異]元素；退化元素 | singular element | 【數學名詞】 |
| 熱載子引發退化 | hot carrier induced degradation | 【電子工程】 |
| 熱載子引發介面能態 | hot carrier induced interface state | 【電子工程】 |
| 多光子激發元件製作 | multi-photon excitation component fabrication | 【電子工程】 |
| 電荷耦合及載子主導元件 | charge coupled and carrier domain device | 【電子工程】 |
| 雙載子功率元件；雙極型功率元件 | bipolar power devices | 【電子工程】 |
| 電荷引發元件 | charge priming device{=CPD} | 【電機工程】 |
| 電荷引發元件 | charge priming device{=CPD} | 【電子計算機名詞】 |
| 熱載子退化 | hot carrier degradation | 【電子工程】 |
| 引發事件 | Inciting Incident, Event | 【舞蹈辭典】 |
| 電子儲存元件 | electronic storage element | 【資訊與通信術語辭典】 |
| 超導量子干涉元件 | superconducting quantum interference devices{=SQUIDs} | 【電子工程】 |
| 量子干擾元件 | Quantum interference devices | 【電子工程】 |
| 導引器元件 | director element | 【電子工程】 |
| 載子邊界條件 | Carrier boundary conditions | 【電子工程】 |
| 樑形引線元件 | beam lead device | 【電子工程】 |
| 高速（中子引發）分裂因數 | fast fission factor | 【電機工程】 |
| 中子感測元件 | element, neutron-sensing | 【電機工程】 |