測試型樣
中 文 測試型樣
出 處 電子計算機名詞
相關詞匯
中文詞彙 | 英文翻譯 | 出處/學術領域 |
---|---|---|
自動測試型樣產生系統 | automatic test pattern generation system{=ATPG} | 【電子計算機名詞】 |
自動測試型樣產出 | automatic test pattern generation | 【電子計算機名詞】 |
自動測試型樣 | automatic test pattern | 【電子計算機名詞】 |
測試型樣 | test pattern{=TP} | 【電子計算機名詞】 |
測試型樣序列 | test pattern sequence | 【電子計算機名詞】 |
測試型樣產生器 | test pattern generator{=TPG} | 【電子計算機名詞】 |
測試型樣產生系統 | test pattern generation system | 【電子計算機名詞】 |
測試型樣產生程式 | test pattern generation program | 【電子計算機名詞】 |
測試型樣產生 | test pattern generation | 【電子計算機名詞】 |
測試型態產生器 | test-pattern generat | 【電子計算機名詞】 |
自動測試形樣產生系統 | automatic test pattern generation system | 【資訊與通信術語辭典】 |
低功率位移末投值測試圖樣 | Launch-off-Shift low power patterns | 【電子工程】 |
自動測試形樣產生系統 | ATPG(Automatic Test Pattern Generation)system | 【電子計算機名詞】 |
電視測試圖樣產生器 | television test pattern generator | 【通訊工程】 |
磁泡型樣敏感度測試 | bubble pattern sensitivity testing | 【資訊與通信術語辭典】 |
測試樣型;測視圖; | test pattern | 【電機工程】 |
磁泡型樣敏感度測試 | bubble pattern sensitivity testing | 【電子計算機名詞】 |
統計測試模型 | statistical test model | 【資訊與通信術語辭典】 |
超大型積體電路測試 | VLSI testing | 【電子工程】 |
超大型積體電路通訊處理機可測試性設計 | VLSI communication processor designed for testability | 【電子工程】 |