wafer acceptance test{=WAT}

英 文 wafer acceptance test{=WAT}

中 文 晶片驗收測試

出 處 電子工程

wafer acceptance test{=WAT} 晶片驗收測試 【電子工程】

acceptance test 驗收測試 【資訊與通信術語辭典】

acceptance test conditions{=ATC} 驗收測試條件 【電子工程】

acceptance test 交貨檢驗；驗收測試 【電子工程】

factory acceptance test{=FAT} 工廠允收試驗 【電子工程】

site acceptance test 現場允收試驗 【電子工程】

site acceptance test {=SAT} 現場驗收 【藥學】

factory acceptance test {=FAT} 出廠驗收 【藥學】

factory acceptance test 工廠驗收測試 【藥學】

load acceptance test 負載接受試驗 【電機工程】

performance acceptance test 性能驗收試驗 【電機工程】

acceptance test{=AT} 驗收測試 【電子計算機名詞】

acceptance test procedure{=ATP} 驗收測試程序 【電子計算機名詞】

acceptance test conditions{=ATC} 驗收測試條件 【電子計算機名詞】

site acceptance test 現場驗收測試 【電子計算機名詞】

user acceptance test {=UAT} 使用者接受度測試 【設計學】

user acceptance test 使用者接受度測試 【設計學】

production acceptance test procedure{=PATP} 生產驗收測試程序 【電子計算機名詞】

final acceptance test{=FAT} 最終驗收測試 【電子計算機名詞】

component acceptance test{=CAT} 組件驗收測試 【電子計算機名詞】