hot carrier induced device degradation

英 文 hot carrier induced device degradation

中 文 熱載子引發元件退化

出 處 電子工程

hot carrier induced device degradation 熱載子引發元件退化 【電子工程】

hot carrier induced degradation 熱載子引發退化 【電子工程】

hot carrier induced interface state 熱載子引發介面能態 【電子工程】

self limiting hot carrier degradation 自限制熱載子劣化 【電子工程】

hot carrier degradation 熱載子退化 【電子工程】

AC hot carrier stress 交流熱載子應力 【電子工程】

charge coupled and carrier domain device 電荷耦合及載子主導元件 【電子工程】

Device degradation 元件退化 【電子工程】

Channel hot carrier{=CHC} 通道熱載子 【電子工程】

Channel hot carrier stress 通道熱載子壓力 【電子工程】

drain avalanche hot carrier{=DAHC} 汲極崩潰熱載子 【電子工程】

hot carrier stressing 熱載子應力 【電子工程】

hot carrier stress 熱載子應力 【電子工程】

hot carrier reliability 熱載子可靠度 【電子工程】

hot carrier plasma 熱載子電漿 【電子工程】

hot carrier ionization 熱載子離子化 【電子工程】

hot carrier injection 熱載子注入 【電子工程】

hot carrier escape 熱載子逃脫 【電子工程】

hot carrier effect 熱載子效應 【電子工程】

hot carrier diode 熱載流子二極體 【電子工程】