critical path test generation

英 文 critical path test generation

中 文 要徑測試產生

出 處 電子計算機名詞

critical path test generation 要徑測試產生 【資訊與通信術語辭典】

critical path test generation 要徑測試產生 【電子計算機名詞】

path sensitizing test generation 路徑敏化測試產生法 【電子計算機名詞】

exposure critical path 暴露關鍵性行程 【保健物理辭典】

Critical Path Method，簡稱 CPM 要徑法 【圖書館學與資訊科學大辭典】

critical path tracing 追蹤要徑 【資訊與通信術語辭典】

critical path method 要徑法 【資訊與通信術語辭典】

critical path 關鍵路徑，要徑 【資訊與通信術語辭典】

test generation 測試產生 【資訊與通信術語辭典】

random test generation 隨機測試產生 【資訊與通信術語辭典】

fault test generation 故障測試產生 【資訊與通信術語辭典】

critical path delay variation 關鍵路徑延遲變化 【電子工程】

critical path analysis 臨界路徑分析 【電子工程】

critical path 關鍵路徑 【電子工程】

construction critical path schedule 施工臨界路徑排程 【電機工程】

critical path method{=CPM} 要徑法 【電機工程】

automatic test generation system 自動測試產生系統 【電子計算機名詞】

automatic test generation 自動測試產生 【電子計算機名詞】

secondary critical path 次要徑 【電子計算機名詞】

test generation 測試產生 【電子計算機名詞】